新建XJ4838大功率数字存储半导体特性图示仪 采用能量存储技术和数字存储技术，满足对超大功率半导体器件在大功率工作条件下进行特性图示及参数测量。

上海新建XJ4630型慢扫描二踪示波器 XJ4630型示波器频带宽度为1MHz，Z高灵敏度为2mV/div，Z慢扫描时间为20s/div，全程Z慢扫描时间为500S，采用内刻度长余辉CRT。

新建XJ4833A数字存储半导体管特性图示仪 XJ4833A型200A大功率数字存储半导体管特性图示仪 XJ4834A型400A数字存储超大功率半导体管特性图示仪

新建XJ4822/B型CRT读出半导体管特性图示仪 操作方便，能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试。光标测量数字读出给用户带来方便，二簇曲线显示对器件各类参数配对尤为方便。测试大功率器件时，可采用单次方式。配3KV测试台后Vc可达3KV。

上海新建QT2B型半导体管特性图示仪 * QT-2B半导体管特性图示仪可根据需要测量半导体二极管、三极管的低频直流参数，最大集电极电流可达50A，

上海新建XJ4810A型半导体管特性图示仪 本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。

新建XJ4828 XJ4829数字存储模拟特性图示仪 采用彩色LCD显示 具有数字存储功能 能满足对半导体管特性、三端稳压集成电路进行图示、参数测量 能对模拟器件进行分析、参数挑选、配对等

上海新建XJ4830型智能半导体管特性图示仪 测试开关智能控制，各种控制开关测试条件可预置、测试结果可存盘、可打印输出，并可适用PC机显示被测器件特性曲线。

新建XJ4832A数字存储半导体管特性图示仪 本机是新一代数字化测量仪器。采用新颖电路设计技术，通过微处理器集中控制整个系统的数据采集、显示、打印、存储，处理人机交互信息等。具有高集成度、高可靠性。以屏幕显示测试档级及用光标测试被测器件的各种直流参数，并可将测试结果存储、打印、随时调用。本机具有友好的人机界面，有中、英文两种语言供选择。

新建XJ4834大功率数字存储半导体管图示仪 具有Z大400A/200A的集电极电流和1000V的集电极扫描电压输出。 采用大电流脉冲、采样、存储等技术，满足对大功率半导体管特性进行图示、参数测量。能对大功率 半导体管特性进行分析、参数挑选、配对等，并具有计算机接口、可打印输出, 并可将测试结果存储、 调用、打印。