IT2800系列ITECH艾德克斯IT2801高精密源测量单元的详细资料：

ITECH艾德克斯IT2801高精密源测量单元

5寸触摸显示屏，使源表具有出色的图形用户界面以及各种显示模式，帮助工程师显著提高测试效率。广泛应用于分立半导体器件、功率芯片、无源器件、光电器件、微功耗量测以及材料研究等领域。

ITECH艾德克斯IT2801高精密源测量单元

• 型号
  电压
  电流
  功率
  分辨率
  精 度
  接 口
  尺寸
• IT2801
  1000V
  1A
  20W
  100nV/1pA（Source）
  100nV/1pA（Measure）
  0.015%+300uV(200mV range) 0.025%+300pA (1uA range)
  USB/LAN/Digital IO
  选配GPIB
  1/2 2U

  
  

• IT2805
  200V
  1.5A
  20W
  1uV/100fA（Source）
  100nV/10fA (Measure）
  0.015%+300uV(200mV range) / 0.06%+100pA (100nA range)
  USB/LAN/Digital IO
  选配GPIB
  1/2 2U

  
  

• IT2806
  200V
  3A DC, 10A Pulse
  20W
  100nV/10fA（Source）
  100nV/10fA（Measure）
  0.015%+300uV(200mV range) / 0.06%+100pA (100nA range)
  USB/LAN/Digital IO
  选配GPIB
  1/2 2U

  
  

六合一高精密SMU、降低您的测试成本

传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的，需要多种仪器配合完成测试，如电压/电流源，脉冲发生器，高精密电压/电流表等。不仅占用有限的测试台架空间，同时工程师需要编程实现多台设备的控制及同步，才能确保测试结果的准确度。IT2800系列SMU为工程师提供了一种即经济又高效的解决方案。它集六种设备功能于一体，将不同输出和测量能力整合到紧凑的1/2 2U尺寸中，可精确地输出电压或电流以及同时测量电压和/或电流。它兼具以下仪器的功能：

直观的图形化显示，快速获取产品特性

IT2800系列SMU的前面板有许多功能，以提高交互式使用的速度，用户友好性和易操作性。这些功能包括5英寸彩色LCD触摸显示屏，USB 2.0 memory I/O端口、一个旋转导航按钮、trigger按键、功能按键以及主流的香蕉插座。USB2.0内存端口支持轻松的数据存储，测试配置文件导入以及系统升级。IT2800提供图形化和数字化两种测量结果显示模式，直观的graph view，scope view以及record view视图，极大地提高了台架测试和I-V特性分析的效率。直观的图形化显示，快速获取产品特性Record view 记录仪视图允许用户查看一段时间内的历史波形和table数据，采样时间间隔最小为100us，最多可记录100万点数据。它还支持导出到电子表格（.CSV），以便进一步分析，极大提高测试调试和debug的效率。示波视图是在测试过程中实时绘制I-t或V-t曲线，最多可以捕获和导出600000点的数据，且该功能不受其他功能影响，可以独立同时运行。示波模式下，采样率最高可达100000 points/s(10us)，有利于测试人员监测低频瞬态信号。Scope viewGraph view 图形视图是在XY图上显示测量结果（如I-V和I-t/V-t曲线），这有利于快速评估器件特性，特别是那些从扫描测量